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- 集成電路測(cè)試
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集成電路測(cè)試平臺(tái)ICE3000
產(chǎn)品型號(hào)：ICE3000
集成電路測(cè)試平臺(tái)ICE3000
- 詳細(xì)內(nèi)容
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一、測(cè)試主機(jī)
1. 邏輯分析儀功能：≥16路數(shù)字通道,，支持SPI,、I2C、并行信號(hào)分析,；
2. 示波器功能：≥2通道,，100MHz帶寬，≥1GS采樣率,；
3. 任意波形發(fā)生器功能：頻率≥20MHz,；
4. 數(shù)字萬(wàn)用表功能：分辨率≥4?，最大電壓≥1000V,；
5. 可編程直流電源功能：最大電壓≥6V,、±12V，最大電流≥2A,；
6. 具有≥2路PCI DUT接口,，開(kāi)放PCI接口定義，≥1個(gè)開(kāi)放面包板,，提供DUT,，被測(cè)參數(shù)包括但不限于INL、DNL,、LSB,、Offset Error、SNR、THD,、SINAD等,；
7．支持Wifi、USB連接,，支持LabVIEW,、C和Python等編程語(yǔ)言開(kāi)發(fā)；
8. 配套《集成電路測(cè)試》實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)書(shū),，實(shí)驗(yàn)內(nèi)容包含測(cè)試儀器使用,、ADC靜態(tài)參數(shù)測(cè)試、ADC動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試,、運(yùn)算放大器參數(shù)測(cè)試,、晶體管參數(shù)測(cè)試、功能電路參數(shù)測(cè)試及用戶自定義實(shí)驗(yàn),，并提供實(shí)驗(yàn)程序,；支持MCU、FPGA,、LDO,、EEPROM、FLASH等測(cè)試,。
二,、控制系統(tǒng)
2、測(cè)試板：ADC,、DAC,、PA、晶體管等各1塊,，共4塊,； 8、電源線：1根
1. Intel I5處理器,；
2. 8G或以上內(nèi)存,；
3. 120G或以上固態(tài)硬盤；
4. 21寸或以上液晶顯示器,；
5. 專用工控機(jī)箱,；
6. 配套鍵盤、鼠標(biāo)等外設(shè),。
三,、半導(dǎo)體器件仿真、測(cè)試與分析實(shí)驗(yàn)不少于15個(gè)
四,、集成電路仿真,、測(cè)試與分析實(shí)驗(yàn)不少于18個(gè)
